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Ci4200色差檢測儀UV增加了自校準UV照明功能,以便評估熒光增白劑和熒光劑在不同照明條件下對色彩變化所產(chǎn)生的影響。
蔡司GeminiSEM可助您輕松實現(xiàn)亞納米級分辨率的成像。出色的成像和分析技術更使FE-SEM(場發(fā)射掃描電子顯微鏡)如虎添翼。我們采用創(chuàng)新的電子光學系統(tǒng)和全新樣品倉設計,不僅操作更加簡便,用途更加靈活多樣,還可為您帶來更高的圖像質量。無需水浸物鏡即可拍攝低于1 kV的亞納米級圖像。
蔡司Sigma系列產(chǎn)品集場發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)技術與良好的用戶體驗于一體,可輕松實現(xiàn)成像和分析程序,提高工作效率。 您可以將其用于新材料和顆粒的質量監(jiān)測,或用于生物和地質樣品的研究。在高分辨率成像方面精益求精——采用低電壓,在1 kV或更低電壓下獲得更佳的分辨率和襯度。它出色的EDS幾何學設計可執(zhí)行高級顯微分析,以兩倍的速度和更高的精度獲取分析數(shù)據(jù)。
充分運用多達91條并行電子束的采集速度,用納米分辨率對厘米級樣品進行成像。這款掃描電子顯微鏡設計用于全天候連續(xù)、可靠的運行。只需簡單設置高通量數(shù)據(jù)采集工作流,MultiSEM便能自動完成高襯度圖像采集。
EVO系列結合高性能掃描電子顯微鏡,為顯微鏡專家和新用戶帶來直觀且易操作的使用體驗。憑借豐富的選件,無論是在生命科學、材料科學,或是在日常工業(yè)質量保證和失效分析領域,EVO均可根據(jù)您的需求量身定制。
電子比色儀 (EComparator) 系列在色度測量方面更進一步,方便您將目視(主觀)數(shù)據(jù)轉換成電子(客觀)數(shù)據(jù)。使用電子比色儀系列,您現(xiàn)在可以同時通過屏幕色彩顯示和屏幕數(shù)字顯示觀察色差。
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